英文誌(2004-)
ポスター
基礎:基礎
(S517)
Over-determinedシステムによる変位計測精度の向上およびスペックルの低減
Increase in displacement measurement accuracy and speckle reduction using over-determined system
炭 親良1, 2, 石井 陽介2, 山崎 直人1
Chikayoshi SUMI1, 2, Yousuke ISHII2, Naoto YAMAZAKI1
1上智大学理工学部情報理工学科, 2上智大学大学院理工学研究科情報領域
1Information and Communication Sciences, Sophia University, 2Faculty of Science and Technology Information Science, Sophia University Graduate school
キーワード :