英文誌(2004-)
奨励賞 基礎
奨励賞 基礎
(S539)
散乱特性の高時間分解能・高精度解析に向けた平面波イメージングの応用
Application of plane wave imaging for high temporal and high precision analysis of scattering properties
大村 眞朗1, 石井 琢郎2, Yu Alfred2, 吉田 憲司3, 山口 匡3
Masaaki OMURA1, Takuro ISHII2, Alfred YU2, Kenji YOSHIDA3, Tadashi YAMAGUCHI3
1千葉大学大学院融合理工学府, 2University of Waterloo Electrical and Computer Engineering, 3千葉大学フロンティア医工学センター
1Graduate School of Science and Engineering, Chiba University, 2Electrical and Computer Engineering, University of Waterloo, 3Center for Frontier Medical Engineering, Chiba University
キーワード :